Warnung vor Degradation bei Topcon Modulen und Rückseiten Folien – online Leistungsabfall berechnen

„Jeder will möglichst viel Leistung am Modul Typenschild als positive Bewertung“, erklärt Kenneth Sauer, leitender Ingenieur beim VDE Amerika. „Durch höhere Leerlaufspannungswerte erreichen wir höhere Wirkungsgrade und Nennleistungen. das wird die Hersteller wahrscheinlich zum n-Typ bewegen und TOPCon-Zelldesigns.

Wir versuchen nicht, grundlos Alarm zu schlagen“, sagte Cherif Kedir, Geschäftsführer von RETC. „Wir wollen nur das Potenzial für UV-Abbau testen, um uns und die Industrie aufzuklären. Wenn es keine Probleme gibt, können wir alle mit unserem Leben weitermachen.“

Kedir empfiehlt den Modulherstellern die Durchführung beschleunigter UVID-Tests als Teil einer technischen Due-Diligence-Prüfung. Wenn die Passivierungsschichten der Zellen nicht richtig eingestellt sind, können sie unter dieser Belastung zusammenbrechen. Er empfiehlt, jedes neue Zelldesign von Fall zu Fall zu bewerten. „Wenn es ein Problem gibt, werden wir einen Bericht veröffentlichen, damit sich die Industrie mit dem Thema befassen kann“, sagte er.

Forscher des SLAC National Accelerator Laboratory und des National Renewable Energy Laboratory (NREL) haben den Leistungsverlust dieser Technologien auf der Vorder- und Rückseite dokumentiert. Die Daten deuten nicht auf einen einzigen Degradationsmechanismus hin, sondern lassen vermuten, dass verschiedene Zelldesigns über unterschiedliche Wege degradieren, heißt es in dem Bericht der US-Prüfer.

„Heute zum Beispiel betrachten Ingenieure und Finanziers Mono-PERC-PV-Module vom p-Typ als stabil und risikoarme Technik. Diese Einschätzung fiel nicht immer ein Konsensmeinung. Frühe Versionen von Mono-PERC-Modulen hatte Stabilitätsprobleme, insbesondere LID und in seltenen Fällen LeTID. Diese unerwarteten Mono-PERC-Verschlechterungsmodi Demonstrieren Sie die Leistungsrisiken, denen Early Adopters ausgesetzt sind
mit neuen Technologien.“

RETC+PV+Module+Index+Report+2022

Rückseiten Degradation

Rund 90 % der aktuellen Photovoltaik (PV) Module sind jünger als zehn Jahre. Neue PV Technologien und Materialien werden ohne dokumentierte Haltbarkeit und Leistung Datenreihen eingesetzt. Beschleunigte Testversuche
versuchen die Abbaumodi zu erfassen aber die schnelle Rate an Entwicklung neuer Materialien führt zu schlechten Ergebnissen von Materialien, die gelegentlich verwendet
werden. Aktuelle Tests gehen von UV-Schäden auf der
Rückseite von Modulen aus, zu 10 % dieser Vorfälle an der Front.

Wir präsentieren eine Methode zur Quantifizierung des UV-Abbaus von PV-Backsheets im Feld. Wir zielen darauf ab zu bewerten, ob aktuelle Beschleunigungsfaktoren für UV Schäden in Kammern richtig einzuschätzen sind zu Degradation für verschiedene PV-Standorte und unterschiedliche

Montagekonfigurationen. Diese Methode nutzt bifacial_radiance zu ray-trace und werten die Einstrahlung auf Vorder- und Rückseite des Module aus. Es wird eine Gleichung zum Schätzen der relativen Verschlechterung vorgeschlagen.

Die Albedo hat einen großen Einfluss auf die rückwärtige Bestrahlungsstärke und kann die rückwärtige UV-Bestrahlungsstärke über die Annahme von 10 % hinaus stark erhöhen.
und ebenso den Abbau. Die Rückstrahlung wird weiter durch Regalstrukturen und Array-Geometrie beeinflusst.

Richtige Felddaten validieren, Testpunkte genau erfassen und große Regalstrukturen einzubeziehen und innerhalb jeder Simulation koordinieren. Weitere Modellierung ist erforderlich, um die Empfindlichkeit des Abbauverhältnisses gegenüber all diesen Faktoren zu bestimmen.

UV Degradation in Backsheets: a ray-tracing irradiance simulation approach Matthew Brown1, Silvana Ovaitt2, Michael D. Kempe2 1 University of Colorado Boulder, 2 National Renewable Energy Laboratory https://nrel.gov/docs/fy22osti/82144.pdf

Degration online berechnen – Modul Leistung berechnen

Gebe den initialen bzw Anfangs- Wert ein x0,
Wachstums/Degrations Rate r und Zeit Intervall t und drücke den Berechnen Knopf:

Start Wert (x0):  
Wachstums-/Zerfalls- Rate(r): %
Zeitraum (t):  
   
Value at time t (x(t)):  

Beispiel(70er Regel zum Schätzen der Verdopplung/Halbierung: 70/r)

x0 = 50

r = 4% = 0.04

t = 90 hours

x(t) = x0
× (1 + r) t = 50×(1+0.04)90 = 1706

Growth:

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